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美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局（National Instituteof Standards and Technology，NIST）提供1300多種通過(guò)認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)參考材料即標(biāo)樣（Standard Reference Materials®，SRM），這些標(biāo)樣含有準(zhǔn)確表征的組成成分和/或?qū)傩?，可用于校?zhǔn)儀器設(shè)備，驗(yàn)證特定測(cè)量技術(shù)的準(zhǔn)確性等作用。

NIST提供的標(biāo)樣廣泛應(yīng)用于工業(yè)、學(xué)術(shù)和政府機(jī)構(gòu)，用來(lái)促進(jìn)相關(guān)研究的進(jìn)展和開(kāi)發(fā)過(guò)程。每種標(biāo)樣均附帶分析證書(shū)和相關(guān)數(shù)據(jù)，作為測(cè)量、校正的重要參考數(shù)據(jù)。

 在X射線衍射中，我們所用的X射線衍射儀需要定期進(jìn)行校正，包括角度、強(qiáng)度、峰型等參數(shù)的校正，在校正過(guò)程中，須用到NIST提供的SRM系列的標(biāo)樣，本文主要介紹在XRD研究和工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域所涉及到的SRM標(biāo)樣。

標(biāo)樣--角度標(biāo)樣

角度校正標(biāo)樣的作用：

• 校正和準(zhǔn)確測(cè)定d值；

• 校正和準(zhǔn)確測(cè)定晶胞參數(shù)；

• 作為內(nèi)標(biāo)，校正樣品位移/透過(guò)；

NIST常用角度校正標(biāo)樣的規(guī)格參數(shù)：

重要提示：

SRM 640f 常用于內(nèi)標(biāo)樣品

標(biāo)樣—峰型標(biāo)樣

峰型校正標(biāo)樣的作用：

• 確定儀器分辨率；

• 用于Rietveld精修分析校正

• 用于測(cè)定晶粒尺寸校正；

• 用于測(cè)定應(yīng)力校正；

• 確定XRD儀器狀態(tài)，如分辨率、光路、光管功率VS時(shí)間；

 NIST常用峰型校正標(biāo)樣的規(guī)格參數(shù)

重要提示：

SRM 640c 用于Rietveld精修（最佳角度范圍內(nèi)）；

SRM 1979用于晶粒尺寸校正；

SRM 1976b 用于校正XRD儀器狀態(tài)；

標(biāo)樣—定量分析校正

標(biāo)樣—定量分析標(biāo)樣

定量分析校正標(biāo)樣的作用：

• 校正定量分析；

• 測(cè)試/估計(jì)定量分析軟件準(zhǔn)確度；

• 測(cè)試/估計(jì)XRD儀器狀態(tài)；

 NIST常用定分析標(biāo)樣的規(guī)格參數(shù)

重要提示：

不同的方法需采用相應(yīng)的SRM標(biāo)樣；